晶閘管熒光光纖溫度實(shí)時(shí)測(cè)量系統(tǒng)

華光天銳提供光纖測(cè)溫系統(tǒng)，可以在多種電子元器件中使用，比如IGBT光纖測(cè)溫、可控硅晶閘管測(cè)溫、發(fā)電機(jī)組光纖測(cè)溫，絕緣，不受電磁干擾。

晶閘管測(cè)溫裝置的必要性

電力電子變換裝置在工作過(guò)程中，晶閘管通常工作于高壓、大電流的狀態(tài)中，工作過(guò)程中功率損耗會(huì)引起晶閘管的發(fā)熱、升溫，而晶閘管溫度過(guò)高將縮短器件壽命，甚至燒毀器件。為保證元件在額定負(fù)荷范圍內(nèi)和超負(fù)荷等異常情況下都能工作在允許的最高結(jié)溫以下，需對(duì)晶閘管的溫度進(jìn)行監(jiān)測(cè)，提升設(shè)備運(yùn)行的可靠性。

高壓晶閘管起動(dòng)器在起動(dòng)高壓交流電動(dòng)機(jī)時(shí)，晶閘管要承受高電壓和大電流，晶閘管由于消耗電能，電能轉(zhuǎn)化為熱能，晶閘管本身的溫度快速升高，并通過(guò)其自身的散熱器將其熱量散出。但高壓晶閘管起動(dòng)器因負(fù)載原因起動(dòng)時(shí)間過(guò)長(zhǎng)或多次頻繁起動(dòng)時(shí)，散熱器上由于熱量的積蓄，會(huì)達(dá)到過(guò)高的溫度，此時(shí)，晶閘管溫度也會(huì)過(guò)高，若不及時(shí)采取措施處理或控制過(guò)高的溫度，將會(huì)使晶閘管本身因過(guò)溫而損壞。

晶閘管自 1956 年誕生以來(lái)，一直朝著高電壓、大電流的方向發(fā)展，分為電觸發(fā)晶閘管 (Electrically Triggered Thyristor，ETT)、光觸發(fā)晶閘管 (Light-Triggered Thyristor LTT)，被廣泛的用于 HVDC、SVC、TCSC、TSC 等領(lǐng)域。晶閘管換流閥是系統(tǒng)運(yùn)行的核心部件，在開通過(guò)程中，若經(jīng)受故障 ( 浪涌 ) 電流，電流上升率很大，而單晶硅擴(kuò)展速度的增大并不明顯，且不均勻，因此，會(huì)在導(dǎo)通局部形成很高的電流密度和造成局部結(jié)溫急劇上升，最終導(dǎo)致晶閘管燒毀 ；在導(dǎo)通過(guò)程中，可存在高電流密度溫升效應(yīng)和缺陷點(diǎn)本征激發(fā)效應(yīng)，形成單晶硅自身的循環(huán)加熱，最終晶閘管燒毀 ；在關(guān)斷過(guò)程中，由于存在恢復(fù)電流和較高的電流關(guān)斷 di/dt，結(jié)溫都遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于正常值，易燒毀晶閘管 ；在斷態(tài)過(guò)程中，晶閘管存在泄漏電流和 RC 保護(hù)回路的過(guò)電壓，亦同樣產(chǎn)生局部熱電的循環(huán)自加熱，將晶閘管燒毀。因此，晶閘管結(jié)溫隨外界工況變化，對(duì)換流閥串聯(lián)均壓機(jī)制、內(nèi)外部過(guò)電壓、過(guò)電流、晶閘管反向恢復(fù)過(guò)程、觸發(fā)控制系統(tǒng)、保護(hù)系統(tǒng)等各方面特性都起著決定性作用。因此，迫切需要能夠測(cè)量晶閘管內(nèi)實(shí)時(shí)溫度的測(cè)量系統(tǒng)，熒光光纖測(cè)量系統(tǒng)采用特制的光纖溫度傳感器，能夠?qū)崟r(shí)多點(diǎn)測(cè)量溫度分布，對(duì)晶閘管本體影響極小，不受外界的強(qiáng)電磁干擾，具有體積超小、可靠性高、穩(wěn)定性強(qiáng)、線性度好、誤差小等特點(diǎn)，能夠滿足各類晶閘管測(cè)溫的需求。

福州華光天銳自主研發(fā)的晶閘管熒光光纖溫度實(shí)時(shí)測(cè)量系統(tǒng)，能夠?qū)崟r(shí)多點(diǎn)測(cè)量溫度分布，對(duì)晶閘管本體影響極小，不受外界的強(qiáng)電磁干擾，光纖傳感器體積小，整個(gè)測(cè)量系統(tǒng)具有穩(wěn)定性強(qiáng)、可靠性高、穩(wěn)定性強(qiáng)、線性度好、誤差小等特點(diǎn)，能夠滿足各類晶閘管測(cè)溫的需求。